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論文

Measurement of Auger electrons emitted through Coster-Kronig transitions under irradiation of fast C$$_{2}$$$$^{+}$$ ions

椎名 陽子*; 木下 亮*; 舟田 周平*; 松田 誠; 今井 誠*; 川面 澄*; 左高 正雄*; 笹 公和*; 冨田 成夫*

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 460, p.30 - 33, 2019/12

 被引用回数:2 パーセンタイル:22.69(Instruments & Instrumentation)

We measured the yield of Auger electrons emitted through Coster-Kronig transitions from Rydberg states 1s2p($$^{3}$$P)nl (n = 7, 8) and 1s$$^{2}$$2p($$^{2}$$P)nl (n = 5, 6, 7) of emergent atomic ions C$$^{q+}$$ under irradiation of 3.5-MeV/ atom C$$^{+}$$ and C$$_{2}$$$$^{+}$$ ions on thin C foil targets. The Auger electron yields are suppressed for C$$_{2}$$$$^{+}$$ irradiation compared with C$$^{+}$$ irradiation and the relative yield becomes larger as n increases. Thus, amount of scattered electrons having lower relative energy in the projectile rest frame becomes larger. The results obtained in this study support the influence of projectile velocity on the cluster effect of secondary electron yields.

論文

Secondary electron emission yields from the J-PARC RCS vacuum components

山本 風海; 芝田 健男*; 荻原 徳男; 金正 倫計

Vacuum, 81(6), p.788 - 792, 2007/02

 被引用回数:13 パーセンタイル:46.75(Materials Science, Multidisciplinary)

J-PARC計画3GeVシンクロトロン(RCS)は1MWという大強度のビームを中性子ターゲット及び50GeVシンクロトロンに供給する。RCSは25Hzという早い繰り返しで運転されるため、その変動磁場によって引き起こされるエディー電流に注意しなければならない。そのため、われわれはマグネット内に置く真空容器の材料を金属ではなくセラミックとしている。しかし、セラミックの二次電子放出率は金属と比べて高く、ビーム不安定性を引き起こす可能性がある。また、RCS内にはビームロスを局所化するコリメータを配置するが、ここから出てくる放射線も二次電子の発生源となる。これらの影響を低減するために、TiNコーティングが検討されている。今回はこのTiNコーティングの条件を変えて二次電子放出量を測定した。また、より二次電子放出係数の低いコーティングとしてダイヤモンドライクカーボンコーティングに関しても試験を行った。

論文

A Time pickup system for monitoring cyclotron beam bursts

奥村 進; 福田 光宏; 石堀 郁夫; 荒川 和夫

Review of Scientific Instruments, 73(1), p.51 - 55, 2002/01

 被引用回数:1 パーセンタイル:12.48(Instruments & Instrumentation)

本システムは、サイクロトロンから引き出されたビームの時間特性(ビーム位相,ビーム幅)を測定するために開発された。ビーム中へ挿入されたターゲット(フォイルもしくはワイヤ)から放出される二次電子を検出することで約200psの時間分解能を達成した。フォイルとワイヤの使い分け及びターゲット位置の調整によって、さまざまなビームに対して最適な測定を行うことができる。また、高時間分解能が必要な場合と、高検出効率が必要な場合とでは、各々最適な二次電子収集電圧が異なることを明らかにした。

論文

Secondary electron emission from overlaid crystal targets bombareded with hundred-keV light ions

工藤 博*; 中村 直樹*; 山本 春也; 鳴海 一雅; 楢本 洋

JAERI-Review 99-025, TIARA Annual Report 1998, p.185 - 187, 1999/10

チャンネル条件下で、準表面層で生成する2次電子の収量と2次電子の回折効果を確認するため、Si単結晶表面に非晶質層を形成した後、$$sim$$100keV/uのHe$$^{+}$$イオンを入射して、2次電子スペクトル(0.2$$sim$$1.0keV)を調べた。その結果、以下の結論を得た。(1)2次電子の回折効果は、この実験の誤差範囲内では明確には現れないので、イオン入射時の結晶学的情報を直接的に反映した表面解析が可能である。(2)2次電子の発生、表面への反跳過程の実験結果は、計算結果とよく対応する。したがって、イオン誘起2次電子分光法は、高感度な表面解析法と有用になる。特にオージェ電子分光と組合せることにより、重元素マトリックス上の軽元素の結晶学的解析が可能になり、ほかに類を見ない貴重な手法となろう。

論文

Analysis of misoriented crystal structure by ion channeling observed using ion-induced secondary electrons

工藤 博*; 坂本 昭彦*; 山本 春也; 青木 康; 楢本 洋; 井上 知泰*; 佐藤 政孝*; 山本 康博*; 梅澤 憲司*; 関 整爾*

Japanese Journal of Applied Physics, Part 2, 35(11B), p.L1538 - L1541, 1996/11

イオンチャネリング現象がはじまる表面層での、単一散乱条件下での2次電子を検出すると、準表面層の原子配列を高感度に評価可能であることを示している。2次電子は、keVオーダーの内殻に属するものを検出して原子配列の情報とした。実例を示すために、Ni及びCeO$$_{2}$$単結晶について通常のRBS法の場合と対比した。

論文

High-energy shadowing effect and its application to atomic and solid state physics

工藤 博*; 島 邦博*; 石原 豊之*; 竹下 英文; 青木 康; 山本 春也; 楢本 洋

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 90, p.533 - 536, 1994/00

チャネリング条件下でMeV/u領域のイオンと結合電子との2体衝突過程で生成される2次電子の分光測定により、イオン・固体相互作用に関係する興味ある結果を得たので以下の項目に係わる報告を行う。1)単結晶中の化学結合に関係する電子の実空間での分布。2)固体中を運動する高速重イオンの遮蔽効果。3)イオンのシャドウイング・パターンの可視化。4)表面数10$AA$層の格子不整の解析。

論文

オージェ電子分光装置を利用した壁材の2次電子放出率の測定

廣木 成治; 池田 佳隆; 阿部 哲也; 村上 義夫

真空, 30(1), p.14 - 21, 1987/01

オージェ電子分光装置を用いて、モリブデン(Mo)、炭化チタン(TiC)、窒化チタン(TiN)、銅(Copper)等の2次電子放出率を、1次電子エネルギーが1.5keV以下の範囲で測定した。2次電子放出率は、材料の表面組成と密接な関係があり、各種表面処理(ベーキング、アルゴンイオンエッチング等)により大きく変化することがわかった。そして、大型核融合装置の真空容器内表面清浄化処理の効果を簡便に評価するため、2次電子放出率の変化を監視する方法を検討した。これらの結果に基づき、JT-60高周波加熱用導波管内壁の2次電子放出率の低減化対策を検討した。

報告書

オージェ電子分光装置を利用した壁材の2次電子放出率の測定

廣木 成治; 阿部 哲也; 竹森 信*; 池田 佳隆; 村上 義夫

JAERI-M 85-123, 23 Pages, 1985/08

JAERI-M-85-123.pdf:0.71MB

オージュ電子分光装置を用いて、SUS304、モリブデン、銅、黒鉛、炭化チタンの2次電子放射率を、1次電子エネルギー0~1.5KeVの範囲で測定した。2次電子放出率は、材料の表面組成と密接な関係があり、各種表面処理(ベーキング、アルゴンイオンエッチング、メタングロー放電等)により大きく変化することがわかった。これらの結果に基づき、JT-60高周波加熱用導波管内壁の2次電子放出率の低減化対策を検討した。

論文

Electron and Ar$$^{+}$$ ion impact effects on SiO$$_{2}$$, Al$$_{2}$$O$$_{3}$$ and MgO

永井 士郎; 清水 雄一

Journal of Nuclear Materials, 128-129, p.605 - 608, 1984/00

 被引用回数:8 パーセンタイル:65.31(Materials Science, Multidisciplinary)

抄録なし

論文

The Dependence of self-focusing of a high-intensity pulsed electron beam on gaseous media as studied by depth-dose distributions, 3; Hydrocarbons and halogenomethanes

新井 英彦; 堀田 寛

Radiat.Res., 64(3), p.407 - 415, 1975/03

 被引用回数:3

Febetron706からのパルス電子線の自己集束性をガス圧の関数として測定した。10Torr以下での低圧でのピンチから求めた全イオン化断面積はガスのモル電子分極に対応している。10~40Torrでのピンチの立上りより、二次電子とガスとの相互作用は次の順であると考えられる。CH$$_{4}$$$$<$$$$<$$C$$_{2}$$H$$_{6}$$$$<$$C$$_{3}$$H$$_{8}$$$$<$$C$$_{4}$$H$$_{1}$$$$_{0}$$$$<$$C$$_{5}$$H$$_{1}$$$$_{2}$$$$<$$C$$_{2}$$H$$_{6}$$$$<$$C$$_{2}$$H$$_{4}$$$$<$$C$$_{2}$$H$$_{2}$$、そしてCH$$_{4}$$$$<$$CH$$_{3}$$F$$<$$CHClF$$_{2}$$$$<$$CCl$$_{2}$$F$$_{2}$$

論文

The Depth distribution of F center density in lithium fluoride crystal bombarded with electrons

久保 和子

Journal of the Physical Society of Japan, 37(5), P. 1469, 1974/05

電子照射したLiF結晶中の「F吸収vs.照射表面からの深さ」を測定した。この分布は結晶中での電子の多重散乱によって特徴ずけられ、Spenser理論で計算される電子エネルギー損失の深さ分布と初期においては良く一致する。照射量の増加に伴ない、F中心濃度が飽和する現象のために理論的エネルギー損失曲線から離れ、電子飛程より奥に附加的な肩が現われる。これは電子がLiFを通過する際に放射される二次光子によるF中心形成のためと考えられる。

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